C測(cè)試儀 3506-10
發(fā)布時(shí)間：2019-08-28
點(diǎn)擊量：2033
對(duì)應(yīng)1MHz測(cè)試, 低容量,高精度,高速測(cè)試
● 模擬測(cè)量時(shí)間0.6ms(1MHz)的高速測(cè)量
● 提高了抗干擾性，在產(chǎn)線的上也能實(shí)現(xiàn)高反復(fù)精度
● 1kHz、1MHz測(cè)量下，低電容的貼片時(shí)可穩(wěn)定測(cè)量
● 根據(jù)BIN的測(cè)定區(qū)分容量